场发射扫描电子显微镜
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1508/次机时次数
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4568.97/小时总时长
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0/次送样次数
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258/人收藏者
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收费标准
机时300元/小时 -
设备型号
Sigma 300 -
当前状态
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管理员
常婷 18328071680 -
放置地点
校本部理学院楼一层E1139
- 仪器信息
- 预约资源
- 附件下载
- 公告
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名称
场发射扫描电子显微镜
资产编号
S2100032
型号
Sigma 300
规格
蔡司Sigma 300
产地
英国
厂家
Carl ZeissMicroscopyCarl Zeiss Microscopy Ltd.
所属品牌
ZEISS
出产日期
购买日期
2020-08-20
所属单位
地球与空间科学系
使用性质
科研
所属分类
资产负责人
陈斌 常婷
联系电话
18328071680
联系邮箱
changt@mail.sustech.edu.cn
放置地点
校本部理学院楼一层E1139
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
- 设备使用相关说明
- 备注
主要规格&技术指标
二次电子分辨率：≤1.0nm@15kV，≤1.8nm@1kV(非样品台减速模式)
加速电压：0.02kV ~ 30kV，步进10V；
电子束流：最大束流不低于20nA，束流稳定性优于 0.2 %/h；
放大倍率：10～1,000,000倍；
样品台倾斜范围：-10°～+90°，可360°旋转；
镜筒内高分辨二次电子探测器、样品室内二次电子探测器以及样品室内背散射电子探测器；
标准模式下，无需拼图单幅图像最大存储分辨率：32k×24k像素；
加速电压：0.02kV ~ 30kV，步进10V；
电子束流：最大束流不低于20nA，束流稳定性优于 0.2 %/h；
放大倍率：10～1,000,000倍；
样品台倾斜范围：-10°～+90°，可360°旋转；
镜筒内高分辨二次电子探测器、样品室内二次电子探测器以及样品室内背散射电子探测器；
标准模式下，无需拼图单幅图像最大存储分辨率：32k×24k像素；
主要功能及特色
InLens SE：镜筒内二次电子探测器，可用于高分辨率形貌观察及矿物间关系分析；
SE2：样品室内二次电子探测器，可用于矿物形貌及矿物相关系分析；
AsB：背散射电子探测器，可用于矿物成分及相关系分析；
阴极荧光系统（CL）：确定样品的环带结构、生长期次等微观特征；
电子背散射衍射仪（EBSD）：获得样品的高精度晶体学信息(织构、晶面取向、晶粒尺寸、晶界、亚晶应变分析等)；
能谱仪（EDS）：分析样品中元素的种类及含量。
SE2：样品室内二次电子探测器，可用于矿物形貌及矿物相关系分析；
AsB：背散射电子探测器，可用于矿物成分及相关系分析；
阴极荧光系统（CL）：确定样品的环带结构、生长期次等微观特征；
电子背散射衍射仪（EBSD）：获得样品的高精度晶体学信息(织构、晶面取向、晶粒尺寸、晶界、亚晶应变分析等)；
能谱仪（EDS）：分析样品中元素的种类及含量。
样本检测注意事项
需在实验室专员指导下进行相关实验操作
设备使用相关说明
镀碳仪：100元/次
镀碳仪品牌及型号：美国Ted Pella 108C 全自动
全彩色CL：800元/小时
镀碳仪品牌及型号：美国Ted Pella 108C 全自动
全彩色CL：800元/小时
备注
EBSD原始数据（BCF）数据量过大，实验室仅保存一个月，请及时拷贝。
预约资源
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公告
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