多尺度高分辨缺陷分析扫描电子显微镜
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收费标准
机时分段计费 -
设备型号
Apreo2 S Lovac -
当前状态
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管理员
王帅【机械系】,何明琳 15040396057 -
放置地点
校本部工学院北楼一层130
- 仪器信息
- 预约资源
- 附件下载
- 公告
- 同类仪器
名称
多尺度高分辨缺陷分析扫描电子显微镜
资产编号
S2115546
型号
Apreo2 S Lovac
规格
1台
产地
捷克
厂家
Thermo Fisher Scientific Brno s.r.o
所属品牌
FEI
出产日期
2021-03-21
购买日期
2021-01-14
所属单位
机械与能源工程系
使用性质
科研
所属分类
资产负责人
何明琳
联系电话
15040396057
联系邮箱
heml@sustech.edu.cn
放置地点
校本部工学院北楼一层130
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
- 设备使用相关说明
主要规格&技术指标
主要参数和配置：
1．工作条件:
1.1电源: 220V/50Hz
1.2运行环境温度: 17-23C
1.3 运行环境：相对湿度<80%
1.4仪器运行的持久性：可连续运行
2．设备用途：
超高分辨扫描电子显微分析系统主要用于纳米材料的超高分辨微观形貌观察和微区分析。
3． 技术规格
3.1 电子光学系统
3.1.1 分辨率：二次电子（SE）像
3.1.1.1 高真空模式：15 kV时可达0.5 nm ；1 k V时优于0.9nm(非减速模式)；1 k V时优于0.8nm(减速模式)
3.1.2 放大倍率范围：20 ～ 2,000,000倍，根据加速电压和工作距离的改变，放大倍数自动校准
3.1.3 着陆电压：20eV ～ 30 keV
3.1.4 电子枪：肖特基场发射电子枪
3.1.5 灯丝保证寿命：24个月，备用场发射灯丝一根，按需发货
3.1.6 电子束流：1pA ～ 50 nA，连续可调
3.1.7配备电子束减速模式或更多不导电样品的高分辨观察模式
3.1.8 光阑自动调节和自动合轴
3.2 样品室和样品台
3.2.1 样品室：分析工作距离10mm；12个探测器/附件接口；
能谱仪采集角35。
3.2.2 样品台：
五轴马达驱动样品台，移动范围指标：
X 110 mm，Y 110 mm，Z 65mm
连续旋转：R=360；倾斜角T：范围不小于－15º～90º 。
3.3 探测器：
3.3.1探头：极靴内背散射电子探头，极靴内两个二次电子探头；
3.3.2 样品室二次电子探头
3.3.3 光学导航相机
3.3.4 样品室IR-CCD相机
3.3.5 样品室可伸缩背散射电子探测器
3.3.6 可伸缩STEM探测器
3.3.7 等离子清洗
3.3.8 STEM探测器
3.4 真空系统
3.4.1 无油真空系统
3.4.2 涡轮分子泵和2个离子泵
3.4.3 旋片式干泵
3.4.4 样品室真空度：高真空模式优于6.3×10-4 Pa。
3.5 数字图像记录系统
3.5.1 图像扫描：100%数字化扫描，最大扫描和成像6144×4096像素
3.5.2 图像显示：1280×1024像素，24” LCD显示器
3.5.3 单幅或四幅图像显示
3.5.4 图像记录：TIFF, BMP和JPEG可选
3.5.5 256幅平均或积分处理
3.6 控制和数据处理系统
3.6.1 电镜控制器
双核3.0GHz以上CPU, 8G内存；1Tb以上硬盘；独立显卡；DVD读取机；24” LCD显示器
3.6.2 Windows 10操作系统
3.6.3 操作方式：键盘、鼠标
3.6.4 可自动调节：电子枪对中、真空控制、亮度与衬度、调焦和象散、动态聚焦、倾斜补偿
3.7 标准应用软件
3.7.1 具有样品台图像导航功能
3.7.2 具有双击鼠标移动样品功能
3.7.3 具有鼠标拖曳式放大及对中功能
3.7.4 具有大视野拼图软件
1．工作条件:
1.1电源: 220V/50Hz
1.2运行环境温度: 17-23C
1.3 运行环境：相对湿度<80%
1.4仪器运行的持久性：可连续运行
2．设备用途：
超高分辨扫描电子显微分析系统主要用于纳米材料的超高分辨微观形貌观察和微区分析。
3． 技术规格
3.1 电子光学系统
3.1.1 分辨率：二次电子（SE）像
3.1.1.1 高真空模式：15 kV时可达0.5 nm ；1 k V时优于0.9nm(非减速模式)；1 k V时优于0.8nm(减速模式)
3.1.2 放大倍率范围：20 ～ 2,000,000倍，根据加速电压和工作距离的改变，放大倍数自动校准
3.1.3 着陆电压：20eV ～ 30 keV
3.1.4 电子枪：肖特基场发射电子枪
3.1.5 灯丝保证寿命：24个月，备用场发射灯丝一根，按需发货
3.1.6 电子束流：1pA ～ 50 nA，连续可调
3.1.7配备电子束减速模式或更多不导电样品的高分辨观察模式
3.1.8 光阑自动调节和自动合轴
3.2 样品室和样品台
3.2.1 样品室：分析工作距离10mm；12个探测器/附件接口；
能谱仪采集角35。
3.2.2 样品台：
五轴马达驱动样品台，移动范围指标：
X 110 mm，Y 110 mm，Z 65mm
连续旋转：R=360；倾斜角T：范围不小于－15º～90º 。
3.3 探测器：
3.3.1探头：极靴内背散射电子探头，极靴内两个二次电子探头；
3.3.2 样品室二次电子探头
3.3.3 光学导航相机
3.3.4 样品室IR-CCD相机
3.3.5 样品室可伸缩背散射电子探测器
3.3.6 可伸缩STEM探测器
3.3.7 等离子清洗
3.3.8 STEM探测器
3.4 真空系统
3.4.1 无油真空系统
3.4.2 涡轮分子泵和2个离子泵
3.4.3 旋片式干泵
3.4.4 样品室真空度：高真空模式优于6.3×10-4 Pa。
3.5 数字图像记录系统
3.5.1 图像扫描：100%数字化扫描，最大扫描和成像6144×4096像素
3.5.2 图像显示：1280×1024像素，24” LCD显示器
3.5.3 单幅或四幅图像显示
3.5.4 图像记录：TIFF, BMP和JPEG可选
3.5.5 256幅平均或积分处理
3.6 控制和数据处理系统
3.6.1 电镜控制器
双核3.0GHz以上CPU, 8G内存；1Tb以上硬盘；独立显卡；DVD读取机；24” LCD显示器
3.6.2 Windows 10操作系统
3.6.3 操作方式：键盘、鼠标
3.6.4 可自动调节：电子枪对中、真空控制、亮度与衬度、调焦和象散、动态聚焦、倾斜补偿
3.7 标准应用软件
3.7.1 具有样品台图像导航功能
3.7.2 具有双击鼠标移动样品功能
3.7.3 具有鼠标拖曳式放大及对中功能
3.7.4 具有大视野拼图软件
主要功能及特色
多尺度高分辨缺陷分析扫描电子显微镜属于先进制造成型、精密加工、软物质材料、能源工程等方向研究必备的重要工具之一。经过多家调研和产品比较，根据需求购买性能优异，品质过硬，市场占有率高，售后服务响应及时的设备。赛默飞的Apreo 2 S LoVac扫描电镜是今年最新型号的超高分辨率的扫描电镜，在同类仪器中，技术性能指标优异。该机器无具有无与伦比的极高分辨率，其在15KV下0.5nm、1KV下0.9nm的分辨率(非减速模式)、1KV下0.8nm的分辨率(减速模式)；其使用了新型的复合物镜设计（包括电磁透镜、静电透镜、浸没式透镜）可以满足从磁性样品到无机材料或者有机高分子材料的表面形貌、成分定性定量分析的要求；配备了镜筒内探测器，样品的观察不受样品表面的凹凸起伏及倾转的影响，此外可以在很低的工作距离下进行观察；分析扩展能力很强，其探针电流可以1pA到50nA，可以很快地完成分析需求，此外还可以扩展各种应用扩展需求；操作简单，结果获得容易，其使用了先进的导航相机和操作导航技术，无论是操作新手还是熟练的操作者都可以轻松地获得极高分辨的图像；可以满足各种纳米材料样品的观察需求。
样本检测注意事项
1 不允许在电镜室进行样品制备。与测试无关的器件、易燃易爆品、危险化学药品等均不允许带入电镜室。严禁在电镜室吃东西和抽烟。不得擅自改变空调温度和除湿机参数。
2 测试样品为粉末样品、易挥发样品、铁磁性样品等，请先与电镜工程师联系。
3 测试模式为低真空模式、电子背散射衍射模式（EBSD）、扫描透射模式（STEM）、电子通道花样模式（ECCI）和背散射模式（ABS和CBS）等，请先与设备管理员联系。
4 使用者不得更改电脑内任何设定（仅允许修改自己账号内参数）或者私自安装任何软件。违反者禁止实验一个月。
2 测试样品为粉末样品、易挥发样品、铁磁性样品等，请先与电镜工程师联系。
3 测试模式为低真空模式、电子背散射衍射模式（EBSD）、扫描透射模式（STEM）、电子通道花样模式（ECCI）和背散射模式（ABS和CBS）等，请先与设备管理员联系。
4 使用者不得更改电脑内任何设定（仅允许修改自己账号内参数）或者私自安装任何软件。违反者禁止实验一个月。
设备使用相关说明
1. 设备培训事宜请关注机械系扫描电镜QQ群472190465
2. 原位力学平台使用需提前预约。
2. 原位力学平台使用需提前预约。
预约资源
附件下载
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