大仪设备收费标准-物理系20240601|南方科技大学仪器共享平台

大仪设备收费标准-物理系20240601: 陈英 2024.05.30 1125

物理系大型仪器设备平台，是学校科研服务平台的重要学科分支补充，集科学研究、实验教学与测试服务功能为一体。平台于2022年9月全面开放共享上线并逐步丰富和完善，坚持“以科研服务为宗旨、资源共享为主线、立足物理学科，辐射相关院系”的原则，推动高精尖仪器设备在科学研究、人才培养和成果转化中发挥更大作用，为学校“双一流”建设提供条件支撑。

目前，平台总建筑面积500平，拥有总价值逾1.3亿的高精端仪器设备，分为物性与结构平台、微纳加工与材料生长制备平台、高性能计算集群平台和光学平台。

图分平台介绍

大仪机时收费标准-物理系20240601
序号	仪器设备名称	仪器厂家及品牌	检测项目名称	样品状态（固态、液态、粉末、薄膜等）	按样品数/使用次数/使用时间/自定义方式计费	收费标准
序号	仪器设备名称	仪器厂家及品牌	检测项目名称	样品状态（固态、液态、粉末、薄膜等）	按样品数/使用次数/使用时间/自定义方式计费	校外	校内	单位内	其他（耗材费等）
1	综合物性测量系统（PPMS）	PPMS DynaCool	直流电输运测量、振动样品磁强计测量、高级电输运测量、铁磁共振测试、磁力显微镜测量		按样品数/使用时间	300/h	100/h	50/h	液氦1000/百分点；氦气200/Psi
2	高精度光学浮区法单晶炉	IRF01-001-05	工艺实验设备		按使用时间	250/h	100/h	30/h
3	劳厄晶体定向系统	LCS2020W	可用于检测大块材料是否为单晶，并对多块单晶样品进行同取向的精密组装		按使用时间	250/h	100/h	30/h
4	无液氦综合物性测量仪（PPMS）	PPMS DynaCool	直流电输运测量、振动样品磁强计测量、高级电输运测量、铁磁共振测试、磁力显微镜测量		按样品数/使用时间	300/h	100/h	50/h
5	高精度磁学测试系统（MPMS3）	MPMS3	极低温、强磁场、高压下表征样品电输运、热输运、磁性以及热力学性质		按样品数/使用时间	350/h	150/h	50/h
6	X射线衍射仪（系）	SmartLab9KW	粉末和多晶薄膜的常规测试	粉末或固态	按样品数/使用时间	400/h	200/h 附件应用（原位变温测试、二维探测器）400/h；	50/h 附件应用（原位变温测试、二维探测器）100/h；
7	磁光克尔测试仪（MOSE）	NanoMOKE3	在外加磁场、电流及温度环境等来对材料进行面内、面外的动态磁畴观测		按样品数/使用时间	300/h	100/h	50/h
8	光刻机（紫外光刻机）	ABM/6/350/NUV /DCCD/M	工艺实验设备		按样品数/使用时间	300/h	150/h	30/h
9	反应离子蚀刻	FA2000	工艺实验设备		按样品数/使用时间	400/h	200/h	50/h
10	放电等离子烧结炉	富士电波工机株式会社	合成制备材料	粉末	使用时间	280/h	112/h	28/h
11	霍尔测试仪	Lake Shore公司	半导体载流子浓度、迁移率、电阻率等	固态	样品数/使用时间	室温测试300每样	室温测试120每样	室温测试30每样
12	霍尔变温仪	Lake Shore公司	半导体载流子浓度、迁移率、电阻率等	固态	样品数/使用时间	变温测试700/h	变温测试280/h	变温测试70/h
13	闭环控制原子力显微镜	Bruker, Dimension Icon	AFM+拉曼联用	薄膜	按使用时间计算	3000/h	1000/h	800/h
14	拉曼光谱微区测试仪	Renishaw，inVia	AFM+拉曼联用	薄膜	按使用时间计算	3000/h	1000/h	800/h
15	无掩模紫外光刻机	赫智，ATS-07- UV litho (plus)	紫外光刻	薄膜	按使用时间计算	1000/h	400/h	100/h
16	低温磁光测试平台	TuoTuo Technology (Singapore) Pte. Ltd. ；TTT- 02-Kerr Microscope	磁光克尔(MOKE)效应测量	薄膜	按使用时间计算	3000/h	常温800/h 低温1000/h	常温600/h 低温800/h
17	高性能计算集群	联想	机时费（/核时）	数据	自定义	新节点:0.12，旧节点0.09; 胖节点:0.6	新节点：0.04，旧节点：0.03；胖节点：0.2	新节点：0.02 旧节点：0.01 胖节点：0.1
18	高性能计算机配电设备	爱默生	托管费（/U/月）	服务器	自定义	400.00	400.00	100（首台免费）
19	电子束蒸发系统	DE400	薄膜沉积	固态	按使用时间计算	900/h	300/h	100/h	黄金等贵金属250/h
20	高效率超导纳米线探测系统	略（组装）	1560nm波段单光子探测	无	按使用时间计算	500/h	300/h	200/h
21	高功率可调谐倍频半导体激光器	TA-SHG PRO	473-481nm激光	无	按使用时间计算	400/h	200/h	100/h
22	多通道任意波形发生器	AWG5208	信号源	无	按使用时间计算	200/h	100/h	0/h
23	DPSS窄线宽激光器	Mephisto MOPA 55W	激光	无	按使用时间计算	3000/h	2000/h	1000/h
24	单频光纤激光器	YDFL-SF-1064-50-532-10-CW	激光	无	按使用时间计算	3000/h	2000/h	1000/h
25	X射线衍射仪（1）	日本理学 SmartLab9KW射线衍射仪	原位高/低温XRD测试	粉末、块体	按使用时间计算	原位高/低温测试：400/h	原位高/低温测试：350/h	原位高/低温测试：200/h
26	X射线衍射仪（2）	日本理学 MiniFlex300 X射线衍射仪	XRD测试	粉末、块体	按使用时间计算	400/h	300/h	100/h
27	X射线断层扫描	日联科技 AX 2800MAX	穿透式X射线扫描	块体	按样品计算	350/样品	200/样品	50/样品
28	热膨胀仪	林赛斯 Linseis DIL L75V	热膨胀测试	块体	按样品计算	1500/样品	1200/样品	500/样品
29	拉曼测试仪	德国Bruker SENTERRA	拉曼光谱测试	粉末、块体	按使用时间计算	400/h	300/h	100/h
30	1000T六面顶压机	国产铰链式六面顶压机DS6×10MN	高温高压样品合成和热处理	粉末、块体	按样品和使用时间计算	500起（1h内），长时间保温20/h	300起（1h内），长时间保温10/h	100起（1h内），长时间保温10/h
31	二级压机	德国LPRU2000-650/150 20MN Laboratory Process Press	高温高压样品合成和热处理	粉末、块体	按样品和使用时间计算	2000起（1h内），长时间保温20/h	1500起（1h内），长时间保温10/h	1000起（1h内），长时间保温10/h
32	磁控溅射	沈阳科仪JGP450	镀膜	固体基底	按使用时间计算	500/h	300/h	200/h
33	低温透射电镜样品转移系统	方昇光电	薄膜沉积Plasma	固态	按使用时间计算	1500/h	500/h	200/h	黄金等贵金属500/h
34	高性能全自动拉曼光谱仪	Horiba	532nm、638nm激光		按使用时间计算	500/h	200/h	100/h
35	原子力显微镜	Oxford	材料表面形貌（接触、轻敲模式），磁学测试，电学测试		按使用时间计算	800/h	500/h	200/h
36	台式场发射扫描电镜和能谱一体机	Phenom World	材料表面形貌测试（单层二维材料和三维立体形貌)，材料能谱分析	固态	按使用时间计算	800/h	400/h	200/h
37	液氦回收系统	中船鹏力		液体	回收的氦气按一升130收费	一升130（按回收量供给）	一升130（按回收量供给）	一升130（按回收量供给）
38	原子力显微镜	Oxford/Cypher ES	形貌测试，扫描开尔文、导电原子力、压电力、摩擦力等模式的显微成像，	固体、薄膜样品	按样品数/使用时间	400/h	280/h	100/h（送样测试：200/h）
39	AttoDry 2100（矢量磁体低温腔）	attocube Systems AG	可以实现微区荧光（PL）光谱，吸收/反射光谱（Absorption，Reflection，瞬态在建中），拉曼（Raman）光谱，二次谐波光谱（SHG），反射磁圆二色性（RMCD），磁光克尔效应（MOKE，瞬态与稳态）	固体、薄膜样品	使用时间	800/h	500/h	100/h（送样测试：300/h）	无
40	近场光学扫描显微镜	仪晟科学仪器	配有连续二氧化碳激光器（10.6μm长），可用于成像块体和薄层材料中的光学模式（极化激）、导电率、铁电/铁磁相变等。该设备亦具有单点红外光谱测量功能	固体、薄膜样品	使用时间	1200/h	400/h	100/h（送样测试：300/h）；培训费3000。	无
41	球差校正透射电子显微镜	JEOL	原子级分辨率的透射和扫描透射成像（HRTEM/HRSTEM），材料素分析（EDS/EELS）	固体、薄膜、粉末等	使用时间	3000/h	800/h	500/h（送样测试：1500/h）；培训费5000。
42	高精度热电效率综合测试仪	ULVAC-RIKO	热电器件性能测试	固态	使用时间	800/h	320/h	80/h
43	单臂热电效率测量系统（综合物性分析仪）	ULVAC-RIKO公司	热电器件性能测试	固态	使用时间	800/h	320/h	80/h
44	双电源放电等离子体烧结系统	富士电波工机株式会社	合成制备材料	粉末	样品数	800/样（自带模具）	320/样（自带模具）	80/样（自带模具）
45	精密离子减薄仪	Gantan公司	透射电镜样品制备	固态	使用时间	200/h	80/h	20/h
46	等离子球磨机	广州华工光机电科技有限公司	材料球磨	固态	使用时间	300/h	120/h	20/h
47	半导体3D打印机	西安铂力特增材技术公司	3D打印成型	粉末	使用时间	300/h，基材费300/块	120/h，基材费300/块	30/h，基材费300/块
48	激光导热仪（激光闪射法导热仪）	耐驰仪器公司	热导性能	固态	样品数/测点（每样每温度点）	室温测试400/样；高温测试在室温测试基础上每测点加收100	室温测试160/样；高温测试在室温测试基础上每测点加收40	室温测试40/样；高温测试在室温测试基础上每测点加收10
49	电导率和塞贝克系数检测仪	ULVAC-RIKO	塞贝克系数、电导率测量	固态	使用时间	500/h	200/h	50/h
50	激光导热仪（热电效率测试辅助设备）	耐驰仪器公司	热导性能	固态	样品数/测点（每样每温度点）	室温测试400/样；高温测试在室温测试基础上每测点加收100	室温测试160/样；高温测试在室温测试基础上每测点加收40	室温测试40/样；高温测试在室温测试基础上每测点加收10
51	塞贝克系数与电阻率综合测试系统	ULVAC-RIKO	塞贝克系数、电导率测量	固态	使用时间	500/h	200/h	50/h
52	闪射法激光导热仪	耐驰仪器公司	热导性能	固态	样品数/测点（每样每温度点）	室温测试400/样；高温测试在室温测试基础上每测点加收100	室温测试160/样；高温测试在室温测试基础上每测点加收40	室温测试40/样；高温测试在室温测试基础上每测点加收10
53	塞贝克系数测量仪	ULVAC-RIKO	塞贝克系数、电导率测量	固态	使用时间	500/h	200/h	50/h
54	CMOS光纤相机	TVIPS	采集与成像电子信号	N/A	使用时间	与光电子显微镜合并预约200/h	与光电子显微镜合并预约200/h
38	原子力显微镜	Oxford/Cypher ES	形貌测试，扫描开尔文、导电原子力、压电力、摩擦力等模式的显微成像，	固体、薄膜样品	按样品数/使用时间	400/h	280/h	100/h（送样测试：200/h）
39	AttoDry 2100（矢量磁体低温腔）	attocube Systems AG	可以实现微区荧光（PL）光谱，吸收/反射光谱（Absorption，Reflection，瞬态在建中），拉曼（Raman）光谱，二次谐波光谱（SHG），反射磁圆二色性（RMCD），磁光克尔效应（MOKE，瞬态与稳态）	固体、薄膜样品	使用时间	800/h	500/h	100/h（送样测试：300/h）	无
40	近场光学扫描显微镜	仪晟科学仪器	配有连续二氧化碳激光器（10.6μm长），可用于成像块体和薄层材料中的光学模式（极化激）、导电率、铁电/铁磁相变等。该设备亦具有单点红外光谱测量功能	固体、薄膜样品	使用时间	1200/h	400/h	100/h（送样测试：300/h）；培训费3000。	无
41	球差校正透射电子显微镜	JEOL	原子级分辨率的透射和扫描透射成像（HRTEM/HRSTEM），材料素分析（EDS/EELS）	固体、薄膜、粉末等	使用时间	3000/h	800/h	500/h（送样测试：1500/h）；培训费5000。
42	高精度热电效率综合测试仪	ULVAC-RIKO	热电器件性能测试	固态	使用时间	800/h	320/h	80/h
43	单臂热电效率测量系统（综合物性分析仪）	ULVAC-RIKO公司	热电器件性能测试	固态	使用时间	800/h	320/h	80/h
44	双电源放电等离子体烧结系统	富士电波工机株式会社	合成制备材料	粉末	样品数	800/样（自带模具）	320/样（自带模具）	80/样（自带模具）
45	精密离子减薄仪	Gantan公司	透射电镜样品制备	固态	使用时间	200/h	80/h	20/h
46	等离子球磨机	广州华工光机电科技有限公司	材料球磨	固态	使用时间	300/h	120/h	20/h
47	半导体3D打印机	西安铂力特增材技术公司	3D打印成型	粉末	使用时间	300/h，基材费300/块	120/h，基材费300/块	30/h，基材费300/块
48	激光导热仪（激光闪射法导热仪）	耐驰仪器公司	热导性能	固态	样品数/测点（每样每温度点）	室温测试400/样；高温测试在室温测试基础上每测点加收100	室温测试160/样；高温测试在室温测试基础上每测点加收40	室温测试40/样；高温测试在室温测试基础上每测点加收10
49	电导率和塞贝克系数检测仪	ULVAC-RIKO	塞贝克系数、电导率测量	固态	使用时间	500/h	200/h	50/h
50	激光导热仪（热电效率测试辅助设备）	耐驰仪器公司	热导性能	固态	样品数/测点（每样每温度点）	室温测试400/样；高温测试在室温测试基础上每测点加收100	室温测试160/样；高温测试在室温测试基础上每测点加收40	室温测试40/样；高温测试在室温测试基础上每测点加收10
51	塞贝克系数与电阻率综合测试系统	ULVAC-RIKO	塞贝克系数、电导率测量	固态	使用时间	500/h	200/h	50/h
52	闪射法激光导热仪	耐驰仪器公司	热导性能	固态	样品数/测点（每样每温度点）	室温测试400/样；高温测试在室温测试基础上每测点加收100	室温测试160/样；高温测试在室温测试基础上每测点加收40	室温测试40/样；高温测试在室温测试基础上每测点加收10
53	塞贝克系数测量仪	ULVAC-RIKO	塞贝克系数、电导率测量	固态	使用时间	500/h	200/h	50/h
54	CMOS光纤相机	TVIPS	采集与成像电子信号	N/A	使用时间	与光电子显微镜合并预约200/h	与光电子显微镜合并预约200/h
55	300MHz核磁共振波谱仪	BRUKER	H、C、F、P等谱图测试	液态	使用时间	200/h	80/h	40/h
56	600MHz核磁共振波谱仪	BRUKER	H、C、F、P等谱图测试	液态	使用时间	500/h	180/h	90/h
57	光电子显微镜	Elmitec GmbH	功函数、能量分辨、近场电磁波等实空间成像，微区光电子能谱；时间分辨功能（需同时预约配套飞秒激光）	固体、薄膜样品（导电）	使用时间	2000/h	1200/h	500/h（送样测试：1000/h）
58	高功率飞秒激光器	杭州弈力科技	<50fs可见光脉冲，~10mW功率，1MHz重频	N/A	使用时间	800/h	400/h	200/h
59	高性能计算集群	H3C	机时费（/核时）	数据	自定义	AMD节点: 0.12	AMD节点: 0.08	AMD节点: 0.04
60	综合物性测量系统（PPMS-2）	PPMS DynaCool	直流电输运测量、振动样品磁强计测量、高级电输运测量、铁磁共振测试、磁力显微镜测量		按样品数/使用时间	300/h	100/h	50/h	液氦1000/百分点；氦气200/Psi
61	无液氦低温强磁场仪	PPMS DynaCool	直流电输运测量、振动样品磁强计测量、高级电输运测量、铁磁共振测试、磁力显微镜测量		按样品数/使用时间	300/h	100/h	50/h	液氦1000/百分点；氦气200/Psi
50	激光导热仪（热电效率测试辅助设备）	耐驰仪器公司	热导性能	固态	样品数/测点（每样每温度点）	室温测试400/样；高温测试在室温测试基础上每测点加收100	室温测试160/样；高温测试在室温测试基础上每测点加收40	室温测试40/样；高温测试在室温测试基础上每测点加收10
51	塞贝克系数与电阻率综合测试系统	ULVAC-RIKO	塞贝克系数、电导率测量	固态	使用时间	500/h	200/h	50/h
52	闪射法激光导热仪	耐驰仪器公司	热导性能	固态	样品数/测点（每样每温度点）	室温测试400/样；高温测试在室温测试基础上每测点加收100	室温测试160/样；高温测试在室温测试基础上每测点加收40	室温测试40/样；高温测试在室温测试基础上每测点加收10
53	塞贝克系数测量仪	ULVAC-RIKO	塞贝克系数、电导率测量	固态	使用时间	500/h	200/h	50/h
54	CMOS光纤相机	TVIPS	采集与成像电子信号	N/A	使用时间	与光电子显微镜合并预约200/h	与光电子显微镜合并预约200/h
55	300MHz核磁共振波谱仪	BRUKER	H、C、F、P等谱图测试	液态	使用时间	200/h	80/h	40/h
56	600MHz核磁共振波谱仪	BRUKER	H、C、F、P等谱图测试	液态	使用时间	500/h	180/h	90/h
57	光电子显微镜	Elmitec GmbH	功函数、能量分辨、近场电磁波等实空间成像，微区光电子能谱；时间分辨功能（需同时预约配套飞秒激光）	固体、薄膜样品（导电）	使用时间	2000/h	1200/h	500/h（送样测试：1000/h）
58	高功率飞秒激光器	杭州弈力科技	<50fs可见光脉冲，~10mW功率，1MHz重频	N/A	使用时间	800/h	400/h	200/h
59	高性能计算集群	H3C	机时费（/核时）	数据	自定义	AMD节点: 0.12	AMD节点: 0.08	AMD节点: 0.04
60	综合物性测量系统（PPMS-2）	PPMS DynaCool	直流电输运测量、振动样品磁强计测量、高级电输运测量、铁磁共振测试、磁力显微镜测量		按样品数/使用时间	300/h	100/h	50/h	液氦1000/百分点；氦气200/Psi
61	无液氦低温强磁场仪	PPMS DynaCool	直流电输运测量、振动样品磁强计测量、高级电输运测量、铁磁共振测试、磁力显微镜测量		按样品数/使用时间	300/h	100/h	50/h	液氦1000/百分点；氦气200/Psi
56	600MHz核磁共振波谱仪	BRUKER	H、C、F、P等谱图测试	液态	使用时间	500/h	180/h	90/h
57	光电子显微镜	Elmitec GmbH	功函数、能量分辨、近场电磁波等实空间成像，微区光电子能谱；时间分辨功能（需同时预约配套飞秒激光）	固体、薄膜样品（导电）	使用时间	2000/h	1200/h	500/h（送样测试：1000/h）
58	高功率飞秒激光器	杭州弈力科技	<50fs可见光脉冲，~10mW功率，1MHz重频	N/A	使用时间	800/h	400/h	200/h
59	高性能计算集群	H3C	机时费（/核时）	数据	自定义	AMD节点: 0.12	AMD节点: 0.08	AMD节点: 0.04
60	综合物性测量系统（PPMS-2）	PPMS DynaCool	直流电输运测量、振动样品磁强计测量、高级电输运测量、铁磁共振测试、磁力显微镜测量		按样品数/使用时间	300/h	100/h	50/h	液氦1000/百分点；氦气200/Psi
61	无液氦低温强磁场仪	PPMS DynaCool	直流电输运测量、振动样品磁强计测量、高级电输运测量、铁磁共振测试、磁力显微镜测量		按样品数/使用时间	300/h	100/h	50/h	液氦1000/百分点；氦气200/Psi

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