聚焦离子束FIB
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4647/次总次数
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12055/小时总时长
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586/人收藏者
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收费标准
机时分段计费送样详见检测项目 -
设备型号
Helios 600i -
当前状态
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管理员
校外联络张老师,邓云生,邱杨 88015445 -
放置地点
校本部检测中心一层108
- 仪器信息
- 预约资源
- 检测项目
- 附件下载
- 公告
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名称
聚焦离子束FIB
资产编号
15021609
型号
Helios 600i
规格
产地
捷克
厂家
FEI
所属品牌
出产日期
购买日期
2014-02-20
所属单位
成像平台
使用性质
科研
所属分类
资产负责人
邓云生
联系电话
88015445
联系邮箱
dengys@sustech.edu.cn
放置地点
校本部检测中心一层108
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
- 设备使用相关说明
- 备注
主要规格&技术指标
纳米尺度超高分辨率成像、分析和制造。创新的ElstarTM电子镜筒构成Helios NanoLab高分辨率成像的基础。可实现高热量稳定性的恒定功率透镜、可实现更高探测线性和速度的静电扫描以及可实现各种条件下的超清晰成像。改进的穿透透镜探测器（TLD）用于探测最高采集效率的SE（二次电子）和轴BSE（背散射电子），探测器套组包括可伸缩的的固态背散射探测器。技术参数如下：
1. 二次电子像分辨率：0.9nm（15kV），1.4nm（1kV）；
2. 放大倍数：40~600000；
3. 加速电压：0.5~30kV；
4. 离子成像分辨率：4nm(30kV) ；
5. 加速电压：0.5~30kV。
1. 二次电子像分辨率：0.9nm（15kV），1.4nm（1kV）；
2. 放大倍数：40~600000；
3. 加速电压：0.5~30kV；
4. 离子成像分辨率：4nm(30kV) ；
5. 加速电压：0.5~30kV。
主要功能及特色
1. SEM扫描电子显微镜结构分析；
2. 微纳结构加工；
3. TEM透射电镜样品制备
2. 微纳结构加工；
3. TEM透射电镜样品制备
样本检测注意事项
1. 禁止磁性样品；
2. 样品高度不能超过4mm；
3. 禁止易挥发，未固定样品。
2. 样品高度不能超过4mm；
3. 禁止易挥发，未固定样品。
设备使用相关说明
正常工作时间段，400元/小时；
非工作时间段，300元/小时。
使用者须保证使用的设备不会直接或者间接的用于以下行为：
一、核爆炸性活动。
二、未受核保障监督的核活动。
三、与设备相关的安全和非安全防护的核活动
1、辐射特殊核或原料的化学处理；
2、生产重水；
3、分离同位素放射源和特定核材料;
4、制造含钚核反应堆燃料。
四、火箭系统 (包括弹道导弹、运载火箭、探空火箭) 和无人驾驶飞行器 (包括巡航导弹、目标无人机、无人侦察机) 的最终用途。
五、在世界范围内或由任何国家或目的地设计、开发、生产、储存或使用化学或生物武器。
六、海上核动力推进。
非工作时间段，300元/小时。
使用者须保证使用的设备不会直接或者间接的用于以下行为：
一、核爆炸性活动。
二、未受核保障监督的核活动。
三、与设备相关的安全和非安全防护的核活动
1、辐射特殊核或原料的化学处理；
2、生产重水；
3、分离同位素放射源和特定核材料;
4、制造含钚核反应堆燃料。
四、火箭系统 (包括弹道导弹、运载火箭、探空火箭) 和无人驾驶飞行器 (包括巡航导弹、目标无人机、无人侦察机) 的最终用途。
五、在世界范围内或由任何国家或目的地设计、开发、生产、储存或使用化学或生物武器。
六、海上核动力推进。
备注
QQ群867551749，本群会发布培训、维修等相关通知。
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